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SN74LVTH18646APM

Référence fabricant:	SN74LVTH18646APM
Fabricant:	Texas Instruments
Partie de la description:	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Feuilles de données:	SN74LVTH18646APM Feuilles de données
Statut sans plomb / Statut RoHS:	Sans plomb / Conforme RoHS
État des stocks:	En stock
Expédier de:	Hong Kong
Manière d'expédition:	DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS

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package

spécification

Taper	La description
Séries	74LVTH
Paquet	Tray
État de la pièce	Active
Type de logique	ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Tension d'alimentation	2.7V ~ 3.6V
Nombre de bits	18
Température de fonctionnement	-40°C ~ 85°C
Type de montage	Surface Mount
Paquet / caisse	64-LQFP
Package de l'appareil fournisseur	64-LQFP (10x10)

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